総説・短報・翻訳等 - 藤川　安仁

半導体表面とペンタセン薄膜間の界面形成過程の微視的構造観察（共著）

藤川 安仁, J. T. サドウスキー, A. アルマフーブ, 吉川 元起, 中嶋 一雄, 櫻井 利夫

真空   50 ( 12 )   723 - 728   2007年12月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：日本真空協会   共著区分：共著  

半導体ヘテロ構造における表面・界面歪み制御（共著）

藤川 安仁, 櫻井 利夫

固体物理   40 ( 9 )   615 - 625   2005年9月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（商業誌、新聞、ウェブメディア）   出版者・発行元：アグネ技術センター   共著区分：共著  

半導体ナノ構造の構成要素としての表面構造－高指数表面の研究を通じて－（共著）

藤川 安仁, 櫻井 利夫

日本物理学会誌   60 ( 8 )   641 - 644   2005年8月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：日本物理学会   共著区分：共著  

フラーレン超薄膜の高分解能電子エネルギー損失分光（共著）

藤川　安仁, 小間　篤

表面科学   15 ( 3 )   139 - 144   1994年4月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：日本表面科学会   共著区分：共著  

フラーレンエピタキシャル薄膜の高分解能電子エネルギー損失分光

藤川 安仁, 小間 篤

信学技報   OME 96-34   49 - 57   1996年7月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：電子情報通信学会   共著区分：共著  

窒化物半導体薄膜の走査プローブ顕微鏡による微視的評価（共著）

高村（山田） 由起子, 王 治涛, 藤川 安仁, 櫻井 利夫

応用物理   76 ( 5 )   499 - 504   2007年5月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：応用物理学会   共著区分：共著  

シリコン基板への単一極性GaN成長を可能にするエピタキシャルZrB2薄膜（共著）

高村（山田） 由起子, 王 治涛, 藤川 安仁, 櫻井 利夫

日本物理学会誌   61 ( 7 )   521 - 524   2006年7月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：日本物理学会   共著区分：共著  

シリコン表面上の半金属Bi超薄膜の同素変態（共著）

長尾 忠昭, 柳沼 晋, J. T. Sadowski, 斉藤 峯雄, 藤川 安仁, 大野 隆央, 長谷川 修司, 櫻井 利夫

表面科学   26 ( 6 )   344 - 350   2005年6月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：日本表面科学会   共著区分：共著