論文 - 黒川 敦
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An effective model of the overshooting effect for multiple-input gates in nanometer technologies
Li Ding, Zhangcai Huang, Atsushi Kurokawa, Jing Wang, and Yasuaki Inoue
IEICE Trans. Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E97-A ( 5 ) 1059 - 1074 2014年05月
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16nm FinFET回路のパワーゲーティングスイッチの解析
渡邊眞之, 星誠, 小林徹哉, 黒川敦
電子情報通信学会 総合大会 講演論文集 A-3-3 2014年03月
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TSVベース3D-ICのシグナルインテグリティ解析
小林徹哉, 星誠, 渡邊眞之, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 講演論文集 1_111 - 1_112 2014年03月
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ゲーテドクロックシステムへのNBTI起因デバイス劣化のインパクト
黒川 敦, 星誠, 渡邊眞之
電気学会 論文誌C 134 ( 3 ) 355 - 361 2014年03月
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Design and measurement of MOSFET TEG chips for developing reliability aware EDA software
三浦克介, 黒川敦, 宮崎浩, 中前幸治
ナノテスティング学会 ナノテスティングシンポジウム 講演論文集 2013年11月
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Analysis of Corner Conditions in PVT Variations and Reliability Degradations
Atsushi Kurokawa, Masayuki Watanabe, Makoto Hoshi, Tetsuya Kobayashi
Proceedings Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI) 2013年10月
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次世代LSI用微細CMOSFETの特性解析
◦星誠, 渡邊眞之, 小林徹哉, 深瀬政秋, 黒川 敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 1787 - 1788 2013年09月
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微細LSIにおけるリーク電流が回路遅延に与える影響
星誠, 渡邊眞之, 小林徹哉, 深瀬政秋, 黒川 敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 858 - 863 2013年09月
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Reasonable Circuit Analysis Considering Comprehensively Reliability and Variability
Atsushi Kurokawa, Masayuki Watanabe, Makoto Hoshi, and Masa-aki Fukase
Proc. of International Symposium on Communications and Information Technologies (ISCIT) 2013年09月
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可変クロック方式の開発
小田桐舞央, 今井雅, 黒川敦, 深瀬政秋
電気関係学会 東北支部連合大会 2013年08月
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An analytical model of the overshooting effect for multiple-input gates in nanometer technologies
Li Ding, Zhangcai Huang, Jing Wang, Atsushi Kurokawa, Yasuaki Inoue
Proceedings IEEE International Symposium on Circuits and Systems 1712 - 1715 2013年05月
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内蔵型クロック回路の開発
宮森博也, 今井雅, 黒川敦, 深瀬政秋
電子情報通信学会 総合大会 2013年03月
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LSI信頼性の統合解析方法
渡邊眞之, 星誠, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 2013年03月
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クロックゲーティングによる信頼性起因クロックスキューとその対策
星誠, 渡邊眞之, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 2013年03月
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Fabless時代のDFMを問う～設計と製造をいかに補完し合うか～ （招待講演）
黒川敦
システム・デザイン・フォーラム 2012年11月
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Development of a next generation ubiquitous processor chip
Masa-aki Fukase, Kohei Ichinohe, Kazuki Narita, Tatsuya Takaki, Naomichi Mimura, Tomoaki Sato, Atsushi Kurokawa
ECTI Transactions on Computer and Information Technology 6 ( 2 ) 120 - 127 2012年11月
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Modeling the overshooting effect of multi-input gate in nanometer technologies
Li Ding, Zhangcai Huang, Minglu Jiang, Atsushi Kurokawa, Yasuaki Inoue
Journal of Circuits, Systems and Computers, World Scientific 21 ( 6 ) 1240012.1 - 1240012.13 2012年10月
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ユビキタスプロセッサのトレードオフ設計
一戸康平，三村直道，成田一貴，高木竜哉，佐藤友暁，黒川 敦，深瀬政秋
電気学会 電子・情報・システム部門大会 2012年09月
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ゲーテドクロックシステムへのNBTI起因デバイス劣化のインパクト
星誠，渡邊眞之，黒川敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 2012年09月
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低コスト・高品質な遅延セルの開発
高木竜哉，黒川 敦，深瀬政秋
電気学会 電子・情報・システム部門大会 2012年09月