Papers - KUROKAWA Atsushi
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高速通信非同期式回路における多入力調停回路の構成方式に関する考察
今井雅，黒川敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 講演論文集 771 - 776 2014.9
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2Phaseハンドシェイクプロトコルに基づく非同期式回路のスキャンテスト
寺山恭平，今井雅，黒川敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 講演論文集 765 - 770 2014.9
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インダクタンス逆行列を用いた三次元集積回路の貫通シリコンビア間結合容量抽出
小林徹哉，新岡七奈子，深瀬政秋，黒川敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 講演論文集 759 - 764 2014.9
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Modeling and Analysis of Vertical Interconnects in 3D ICs
Nanako Niioka, Masashi Imai, Masa-aki Fukase, Rosely Karel, Tetsuya Kobayashi, and Atsushi Kurokawa
Tohoku-Section Joint Convention of Institutes of Electrical and Information Engineers (IEEE Student Session) 1A03 2014.8
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Substrate Contact Effect on TSV-to-TSV Coupling
Rosely Karel, Masa-aki Fukase, Masashi Imai, Nanako Niioka, Tetsuya Kobayashi, and Atsushi Kurokawa
Tohoku-Section Joint Convention of Institutes of Electrical and Information Engineers (IEEE Student Session) 1A04 2014.8
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An effective model of the overshooting effect for multiple-input gates in nanometer technologies
Li Ding, Zhangcai Huang, Atsushi Kurokawa, Jing Wang, and Yasuaki Inoue
IEICE Trans. Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E97-A ( 5 ) 1059 - 1074 2014.5
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16nm FinFET回路のパワーゲーティングスイッチの解析
渡邊眞之, 星誠, 小林徹哉, 黒川敦
電子情報通信学会 総合大会 講演論文集 A-3-3 2014.3
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TSVベース3D-ICのシグナルインテグリティ解析
小林徹哉, 星誠, 渡邊眞之, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 講演論文集 1_111 - 1_112 2014.3
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ゲーテドクロックシステムへのNBTI起因デバイス劣化のインパクト
黒川 敦, 星誠, 渡邊眞之
電気学会 論文誌C 134 ( 3 ) 355 - 361 2014.3
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Design and measurement of MOSFET TEG chips for developing reliability aware EDA software
三浦克介, 黒川敦, 宮崎浩, 中前幸治
ナノテスティング学会 ナノテスティングシンポジウム 講演論文集 2013.11
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Analysis of Corner Conditions in PVT Variations and Reliability Degradations
Atsushi Kurokawa, Masayuki Watanabe, Makoto Hoshi, Tetsuya Kobayashi
Proceedings Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI) 2013.10
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次世代LSI用微細CMOSFETの特性解析
◦星誠, 渡邊眞之, 小林徹哉, 深瀬政秋, 黒川 敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 1787 - 1788 2013.9
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微細LSIにおけるリーク電流が回路遅延に与える影響
星誠, 渡邊眞之, 小林徹哉, 深瀬政秋, 黒川 敦
電気学会 電子・情報・システム部門大会 858 - 863 2013.9
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Reasonable Circuit Analysis Considering Comprehensively Reliability and Variability
Atsushi Kurokawa, Masayuki Watanabe, Makoto Hoshi, and Masa-aki Fukase
Proc. of International Symposium on Communications and Information Technologies (ISCIT) 2013.9
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可変クロック方式の開発
小田桐舞央, 今井雅, 黒川敦, 深瀬政秋
電気関係学会 東北支部連合大会 2013.8
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An analytical model of the overshooting effect for multiple-input gates in nanometer technologies
Li Ding, Zhangcai Huang, Jing Wang, Atsushi Kurokawa, Yasuaki Inoue
Proceedings IEEE International Symposium on Circuits and Systems 1712 - 1715 2013.5
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内蔵型クロック回路の開発
宮森博也, 今井雅, 黒川敦, 深瀬政秋
電子情報通信学会 総合大会 2013.3
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LSI信頼性の統合解析方法
渡邊眞之, 星誠, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 2013.3
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クロックゲーティングによる信頼性起因クロックスキューとその対策
星誠, 渡邊眞之, 黒川敦
情報処理学会 全国大会 2013.3
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Fabless時代のDFMを問う～設計と製造をいかに補完し合うか～ （招待講演）
黒川敦
システム・デザイン・フォーラム 2012.11